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鍍層測厚儀是一種用于測量金屬或其他材料表面鍍層厚度的儀器，廣泛應(yīng)用于制造業(yè)、質(zhì)量檢測等領(lǐng)域。鍍層測厚儀通過不同的物理原理來測量涂層的厚度，常見的原理包括磁性感應(yīng)原理、渦流原理和X射線熒光原理。磁性感應(yīng)原理適用于測量非磁性涂層在磁性基材上的厚度，渦流原理適用于測量導(dǎo)電性涂層在導(dǎo)電性基材上的厚度，X射線熒光原理則通過測量被激發(fā)出的熒光X射線的能量和強(qiáng)度來確定鍍層的元素組成和厚度。1、磁性感應(yīng)原理：利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。覆層越厚，則磁阻...

國產(chǎn)固定道WDXRF與進(jìn)口WDXRF在硅基材料分析中的對比與應(yīng)用推薦波長色散X射線熒光光譜儀（WavelengthDispersiveX-rayFluorescence，WDXRF）是一種廣泛應(yīng)用于材料分析的技術(shù)，尤其在硅基材料（如半導(dǎo)體、玻璃、硅片等）中具有重要作用。進(jìn)口WDXRF設(shè)備雖然在性能上表現(xiàn)優(yōu)異，但成本較高，而國產(chǎn)固定道WDXRF近年來發(fā)展迅速，在許多應(yīng)用場景中已能滿足實際需求。本文通過對比國產(chǎn)固定道WDXRF與進(jìn)口WDXRF，在硅基材料分析中的性能表現(xiàn)，并結(jié)合實...

X射線熒光光譜儀原理及主要技術(shù)指標(biāo)對比X射線熒光光譜儀（簡稱：XRF）X熒光光譜儀主要由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。其原理就是：X射線管通過產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），來激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量或者波長。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)...

RoHS2.0檢測儀是根據(jù)歐盟RoHS指令(即《關(guān)于限制在電子電氣設(shè)備中使用某些有害成分的指令》2.0版本)要求而設(shè)計的，用于檢測電子電氣產(chǎn)品中的有害物質(zhì)含量，確保產(chǎn)品符合環(huán)保標(biāo)準(zhǔn)。這些有害物質(zhì)主要包括鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚等。RoHS2.0檢測儀的工作原理主要基于X射線熒光光譜法(XRF)、氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用法(GC-MS)等分析方法。X射線熒光光譜法(XRF)：利用高能X射線激發(fā)樣品中的元素，使其產(chǎn)生特征熒光。通過測量這些熒光的強(qiáng)度，可以計算出樣品中各元...

精度保障1、檢測技術(shù)ROHS2.0十項檢測儀采用X射線光譜儀檢測金屬元素，通過分析元素對X射線的吸收或發(fā)射特征來確定元素種類和含量。這種技術(shù)對于低濃度的金屬元素檢測具有較高的靈敏度。在檢測微量的鉛元素時，能夠準(zhǔn)確區(qū)分出其在樣品中的含量波動。2、精密的校準(zhǔn)系統(tǒng)ROHS2.0十項檢測儀配備精密的校準(zhǔn)系統(tǒng)。通過使用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行定期校準(zhǔn)，確保儀器的檢測結(jié)果準(zhǔn)確無誤。在檢測汞含量時，使用含已知濃度汞的標(biāo)準(zhǔn)溶液，使儀器能夠準(zhǔn)確識別并量化樣品中的汞含量。3、優(yōu)化的檢測流程從樣品的采集、制備...